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7-18
電子陶瓷(如MLCC、壓電陶瓷、微波介質(zhì)陶瓷等)的性能對(duì)原料純度極為敏感,微量雜質(zhì)即可導(dǎo)致介電損耗增加、燒結(jié)異?;蚪^緣性能下降。大明化學(xué)高純度氧化鋁球(99.99%)憑借其超低雜質(zhì)含量和穩(wěn)定的化學(xué)性質(zhì),成為電子陶瓷漿料研磨的選介質(zhì)。以下是其...
7-18
在納米級(jí)粉體研磨領(lǐng)域,Nikkato的φ0.03mm氧化鋯球憑借其超微纖維結(jié)構(gòu)、高密度、高硬度及低污染特性,成為解決超細(xì)粉體研磨難題的理想選擇。以下是其核心優(yōu)勢(shì)及行業(yè)應(yīng)用分析:1.納米級(jí)研磨的關(guān)鍵挑戰(zhàn)粒徑控制:傳統(tǒng)研磨介質(zhì)難以實(shí)現(xiàn)污染風(fēng)險(xiǎn):...
7-18
以下是針對(duì)高電子材料(如MLCC、鋰電池電極)研磨需求的NikkatoYTZ系列(釔穩(wěn)定)與東麗無(wú)稀土氧化鋯球的深度對(duì)比分析,涵蓋技術(shù)參數(shù)、應(yīng)用適配性及未來(lái)趨勢(shì):1.核心性能對(duì)比參數(shù)NikkatoYTZ(Y?O?穩(wěn)定)東麗(無(wú)稀土)硬度(H...
7-17
在夾層玻璃制造領(lǐng)域,PVB(聚乙烯醇縮丁醛)膜的厚度均勻性直接影響最終產(chǎn)品的安全性能和光學(xué)質(zhì)量。傳統(tǒng)檢測(cè)方法效率低下且數(shù)據(jù)可靠性不足,而日本Yamabun公司的TOF-4R05測(cè)厚儀通過(guò)創(chuàng)新的離線檢測(cè)方案,解決了PVB膜厚度快速檢測(cè)的行業(yè)難...
7-17
在微LED測(cè)量領(lǐng)域,柯尼卡美能達(dá)LS-160和TOPCON拓普康RD-80SA是兩款各具特色的亮度計(jì)。選擇哪款設(shè)備取決于具體的應(yīng)用場(chǎng)景、測(cè)量需求以及技術(shù)指標(biāo)要求。以下是兩者的詳細(xì)對(duì)比分析及適用場(chǎng)景建議:1.核心參數(shù)對(duì)比參數(shù)柯尼卡美能達(dá)LS-...
7-17
在糧食倉(cāng)儲(chǔ)與加工行業(yè),水分檢測(cè)是確保糧食品質(zhì)、防止霉變和優(yōu)化干燥工藝的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。日本KettPQ-520、靜岡CTR-500F和OMICRONMA35/MA36是目前市場(chǎng)上主流的水分測(cè)定儀,各自針對(duì)不同的應(yīng)用場(chǎng)景設(shè)計(jì)。本指南將從技術(shù)特點(diǎn)、適...
7-17
摘要本研究對(duì)比分析了四種主流質(zhì)構(gòu)儀(FUDOHRTC-3002D、太陽(yáng)科學(xué)CR-100、BrookfieldCT3和國(guó)產(chǎn)ENS系列)在化妝品硬度、粘彈性等關(guān)鍵物性測(cè)試中的性能差異。通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)試和實(shí)際產(chǎn)品驗(yàn)證,揭示了不同儀器在測(cè)試精度、數(shù)...
7-17
以下是關(guān)于太陽(yáng)科學(xué)CR-100質(zhì)構(gòu)儀如何憑借0.01N高分辨率和自動(dòng)校準(zhǔn)功能提升化妝品QC效率的分析,結(jié)合其核心技術(shù)優(yōu)勢(shì)與實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景:1.0.01N超高分辨率:捕捉細(xì)微質(zhì)地差異精準(zhǔn)檢測(cè)微小力值變化:CR-100的傳感器分辨率達(dá)0.01N(...
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在汽車(chē)制造過(guò)程中,涂裝工藝對(duì)車(chē)身表面的清潔度要求高,即使是微小的灰塵或顆粒也可能導(dǎo)致漆面出現(xiàn)顆粒、縮孔、橘皮等缺陷,嚴(yán)重影響整車(chē)外觀質(zhì)量。如何高效檢測(cè)并清除涂裝前的灰塵?NCCTriton系列灰塵檢查燈憑借其高亮度白光與專業(yè)綠光技術(shù),成為眾...
7-16
日本Shinkuu(真空)磁控離子濺射儀廣泛應(yīng)用于電子顯微鏡(SEM/TEM)樣品制備、半導(dǎo)體檢測(cè)及材料研究領(lǐng)域。其產(chǎn)品線覆蓋從便攜式小型設(shè)備到工業(yè)級(jí)大面積鍍膜系統(tǒng),具有高精度、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)勢(shì),但也存在一些局限性。以下為詳細(xì)分析:一、優(yōu)點(diǎn)分...